Микроскопы сканирующие зондовые СММ-2000
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических и физических параметров топографии поверхности образцов с нанометровым пространственным разрешением без их вакуумирования. Данная стаття носит…
Микроскопы видеоизмерительные MM320
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров, а также взаимного расположения элементов различных деталей в прямоугольных и полярных координатах. Область…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 150х75(1),Б
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 200х75,А
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 150х75(1),А
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 150х75(2),А
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 150х75(2),Б
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 200х75,Б
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы сканирующие зондовые ФемтоСкан
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в…
Микроскопы измерительные VMM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерения геометрических параметров: линейных: размеров различных деталей, геометрических параметров микросхем и т.п. в машиностроении, микроэлектронике. Данная стаття носит…
