Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100 (далее по тексту — микроскоп) предназначен для измерения линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Данная…
Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM (далее — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей. Данная стаття носит исключительно…
Микроскоп оптический AxioImager m2M
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических систем. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет…
Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200A
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении и производстве. Данная стаття носит исключительно…
Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров…
Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских институтов, оптическом приборостроении. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и…
Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро- и нанодиапазоне. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не…
Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в микро- и нанодиапазоне. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и…
Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры, а также для анализа локального элементного состава и кристаллической…
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и…
