Микроскопы сканирующие электронные TESCAN серии VEGA, VELA, INDUSEM, TIMA, MIRA, LYRA, FERA
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. — Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
Микроскопы электронные растровые JSM-6×10 (мод. JSM-6510, JSM-6510LV, JSM-6510LA, JSM-6510A, JSM-6610, JSM-6610LV, JSM-6610LA, JSM-6610A)
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. — Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих…
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения…
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400 (далее — микроскоп) предназначен для измерений параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным…
Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный просвечивающий JEM-2100 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров деталей структуры тонкопленочных объектов. Данная стаття носит…
Микроскоп оптический ультрафиолетового диапазона INM 300 DUV
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп оптический ультрафиолетового диапазона INM 300 DUV, (далее по тексту — микроскоп) предназначен для измерения линейных размеров микрорельефа твердотельных…
Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный растровый JSM-6460LV (далее ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных объектов и структур, в…
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и…
Микроскоп электронный растровый S-4800
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный растровый S-4800 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твердотельных структур. Данная стаття носит…
