Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.A1m, Axio Observer.D1m, Axio Observer.Z1m, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы световые инвертированные Axio Observer.Alm, Axio Observer.Dlm, Axio Observer.Zlm, Axio Observer 3, Axio Observer 5, Axio Observer 7 (далее…
Микроскоп электронный сканирующий c системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов Verios 460 XНR SEM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее — микроскоп)…
Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы автоэмиссионные сканирующие электронные MERLIN Compact, MERLIN Compact VP, MERLIN предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Данная…
Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (мод. JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA)
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы электронные растровые JSM-6x10x (модификации JSM-6010LV, JSM-6010LA, JSM-6010Plus/LV, JSM-6010Plus/LA, JSM-6510Plus, JSM-6510Plus/A, JSM-6510Plus/LV, JSM-6510Plus/LA) (далее — микроскопы) предназначены для количественного…
Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (мод. JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA)
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы электронные растровые JSM IT300x (модификации JSM IT300, JSM IT300LV, JSM IT300A, JSM IT300LA) (далее — микроскопы) предназначены для…
Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный просвечивающий Tecnai G2 F20 S-TWIN TMP (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров объектов. Данная стаття…
Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы полевые эмиссионные растровые электронные SIGMA, SIGMA VP, SIGMA HD, SIGMA HD VP предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа…
Микроскопы измерительные XPress
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные XPress (далее по тексту — микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей с автоматической регистрацией результатов…
Микроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO HD25 MA, EVO HD15 LS, EVO HD25 LS
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные EVO MA10, EVO MA15, EVO MA25, EVO LS10, EVO LS15, EVO LS25, EVO HD15 MA, EVO…
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom мод. Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы электронные растровые настольные Phenom (модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX) (далее — микроскопы) предназначены для количественного морфологического…
