Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные MarVision серий MM 200, MM 220, MM 420, MM 420 CNC (далее — микроскопы) предназначены для бесконтактных…
Микроскопы сканирующие электронные EVO 18
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные EVO 18 (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Данная…
Микроскопы видеоизмерительные Venture мод. 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и Venture Plus мод. VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы видеоизмерительные серии Venture модификации 2510, 3030, 2510-CNC, 3030-CNC и серии Venture Plus модификации VP-6460, VP-6490, VP-101040, VP-101540 (далее…
ИК-фурье микроскопы Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. ИК-фурье микроскопы моделей Nicolet iN10 и Nicolet iN10MX (далее по тексту -приборы) предназначены для измерения содержания различных органических и…
Микроскопы измерительные Nikon MM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные Nikon MM (далее по тексту — микроскопы) предназначены для бесконтактных измерений линейных размеров деталей. Данная стаття носит…
Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп конфокальный лазерный LEXT OLS 4100 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров в нано- и микрометровом диапазонах…
Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие зондовые SOLVER NEXT, TITANIUM (далее C3M) предназначены для измерений геометрических параметров микрорельефа поверхности твёрдых тел. Данная стаття…
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 (далее по тексту — микроскопы МИМ), предназначены для трехмерного анализа рельефа…
Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный растровый JSM-6490LV (далее по тексту — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров микрорельефа твердых структур. Данная стаття…
Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные SNE-3000MB, SNE-3200M, SNE-4500M предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный…
