Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности…
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB Uxe
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа…
Микроскопы измерительные Walter UHL
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров деталей. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и…
Микроскоп электронно-ионный растровый Scios
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и…
Микроскопы измерительные оптические STM7
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х, Y и Z поверхности твердотельных…
Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА)
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа поверхности твёрдых тел. Данная стаття носит…
Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов рельефа по осям Х,…
Микроскопы сканирующие электронные с приставкой для энергодисперсионного микроанализа Hitachi TM4000/TM4000Plus
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного микроанализа (далее — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров элементов…
Микроскопы электронные растровые настольные Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro, Phenom ProX, Phenom Pharos, Phenom XL (далее — микроскопы) предназначены…
Микроскопы сканирующие электронные GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа…
