Микроскопы измерительные 176
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные серии 176 (далее — микроскопы) предназначены для оптического измерения линейных размеров деталей. Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный…
Микроскопы сканирующие зондовые Ntegra SPECTRA, Ntegra PRIMA, Ntegra VITA, Ntegra THERMA, Ntegra AURA, Ntegra MAXIMUS, Ntegra SOLARIS, Ntegra SOLARIS Duo, Ntegra TOMO, Ntegra LIFE
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии,…
Микроскопы сканирующие зондовые Solver HV, Solver HV-MFM, Solver SNOM, Smena, Solver PRO, Solver PRO-M, Solver FD, Solver P47-PRO, Solver PRO-EC, Solver MFM, Solver BIO-M, Solver OPEN
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений трехмерной топологии и параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением, применяются в микро-, опто-, наноэлектронике, нанотехнологии,…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100х50,А
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных и угловых размеров в проходящем и отраженном свете в прямоугольных и полярных координатах: валов (диаметров и…
Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100×50, А
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы инструментальные ИМЦЛ 100×50, А (далее — микроскопы) предназначены для измерения линейных и угловых размеров изделий в прямоугольных и…
Микроскоп электронный растровый c системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов Nova NanoSEM 450
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный растровый Nova NanoSEM 450, с системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции…
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и наноструктур тонкопленочных образцов,…
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микро- и нанорельефа…
Микроскоп электронно-ионный растровый Helios NanoLab 650
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным…
Микроскоп электронный просвечивающий TITAN 80-300
Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и ультраструктуры тонкопленочных образцов (ультратонких срезов ткани, залитой в полимер, и…
