Стенды измерительные для больших и сверхбольших интегральных схем J750Ex-HD (далее — стенды) предназначены для измерения вольт-амперных характеристик микросхем с высокой степенью интеграции.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
