Сканирующий лазерный анализатор поверхности пластин Рефлекс КНС (далее -анализатор) предназначен для измерений поверхностной концентрации частиц и иных дефектов (царапин, рисок, светящихся точек и т.п.) на поверхности полупроводниковых пластин при контроле их качества.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
