Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников SemiCon-1

Фотографическое изображение - Приборы неразрушающего контроля электрофизических параметров широкозонных полупроводников SemiCon-1

Для экспрессного бесконтактного локального измерения удельного сопротивления, времени жизни неравновесных носителей заряда и определения типа проводимости в пластинах и толстых шайбах поли- и монокристаллического кремния, германия, арсенида галлия в лабораторных условиях.

Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.

EnglishRussianUkrainian