Набор мер (фотошаблонов) критических линейных размеров элементов фотошаблонов (далее — меры) предназначен для измерений критических линейных размеров элементов фотошаблонов на установках типа MueTec 2010UV, Leica LWM100UV, LMS IPRO2 и др. в режиме CD-измерений (CD — critical dimension).
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
