Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.

Для измерений параметров топографии и локальных геометрических свойств поверхности, наблюдения морфологии с субнанометровым пространственным разрешением на воздухе и в жидких средах, а также позволяют визуализировать атомную структуру поверхности изучаемых образцов (графит, слюда и пр.) при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для организации экспериментального дистанционного образования студентов в области практической нанотехнологии.