Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскопы лазерные МИМ с длинноходовыми предметными столами МИМ-340 (далее по тексту — микроскопы МИМ), предназначены для трехмерного анализа рельефа отражающей поверхности в микро- и нанодиапазоне, создания графических изображений и их цифрового анализа с целью получения высокоточных данных о структуре поверхности исследуемого объекта.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
