Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп зондовый сканирующий атомно-силовой JSPM 5400 (далее — микроскоп) предназначен для измерений параметров микрорельефа поверхности конденсированных сред с атомарным разрешением.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
