Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным разрешением. Результаты измерений могут быть использованы для определения геометрических параметров в нанометровом диапазоне. Применяется при проведении фундаментальных и прикладных научных исследований, а также для технологического контроля.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
