Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности различных твердотельных объектов, в том числе биологических в режиме сверхнизкого вакуума естественной среды, исследования их элементного состава методом энергодисперсионной спектроскопии.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
