Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронный растровый Nova NanoSEM 450, с системами для энергодисперсионного микроанализа, микроанализа с волновой дисперсией и системой анализа дифракции обратно рассеянных электронов, предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондового рентгеноспектрального микроанализа, регистрации и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
