Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронный просвечивающий JEM 200CX (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров фазовых и структурных составляющих металлов и сплавов, композиционных и полимерных материалов, порошков, микрокристаллов, локального микрорентгеноспектрального анализа, определения параметров кристаллических решеток.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
