Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронно-ионный растровый JIB-4500 (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов топологии микрорельефа поверхности твердотельных материалов и проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов ионным пучком.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
