Комплекс измерения отражения КИО (далее по тексту — комплекс КИО) предназначен для измерения спектральных коэффициентов диффузного отражения (далее — СКДО) черных покрытий твердых материалов в диапазоне длин волн от 0,25 до 2,50 мкм при межоперационном и выходном контроле оптико-физических свойств оптических конструкционных деталей.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
