Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее по тексту — микроскопы) предназначены для измерений линейных размеров микрорельефа твердотельных структур.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
