Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронный сканирующий Verios 460 XYR SEM с системами для энергодисперсионного микроанализа и анализа обратно-рассеянных электронов (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микрорельефа, электроннозондо-вого рентгеноспектрального микроанализа и регистрации и анализа картин дифракции обратно рассеянных электронов.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
