Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронный сканирующий JSM-6490LV (далее по тексту ╞ микроскоп) предназначен для измерения масштабного коэффициента видеоизображения при помощи получения изображения поверхности объекта с высоким пространственным разрешением, а также для элементного анализа и элементного картированияпри малых увеличениях.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
