Для измерения оптических характеристик наноструктурных фотонно-кристаллических волокон для перспективных высокоскоростных волоконно-оптических информационно-телекоммуникационных систем в качестве рабочего средства измерений.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
