Для анализа атомных и молекулярных оптических спектров, получаемых с использованием различных спектральных приборов типа ИСП-22, ИСП-28, ИСП-30, ДФС-8, ДФС-13, ПГС-2 и т.п., посредством измерений относительных интенсивностей спектральных линий, для применения при проведении количественного, полуколичественного и качественного анализа элементного состава веществ, в частности в составе установок эмиссионного спектрального анализа металлов и сплавов на машиностроительных и металлургических предприятиях, а также в научно-исследовательских институтах.