Установка для контроля толщины диэлектрических и полупроводниковых слоев Opti Probe 7341 XP (далее по тексту — установка) предназначена для автоматизированного измерений толщин полупрозрачных пленок (полупроводниковые, диэлектрические, электрооптические, SOI или SOS материалы; оптические антиотражающие покрытия; тонкие металлы; материалы планарных волноводов; стекло с покрытием) на пластинах диаметром 200 мм.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
Клиент удаленного рабочего стола (rdp) предоставляет нам возможность войти на сервер терминалов через консоль. Что…
В VMware Workstation есть несколько способов настройки сети гостевой машины: 1) Bridged networking 2) Network…
Встроенный брандмауэр Windows может не только остановить нежелательный трафик на вашем пороге, но и может…
Вопреки распространенному мнению, отключить IPv6 в Windows Vista и Server 2008 это не просто снять…
Параметры экранной заставки для текущего пользователя можно править из системного реестра, для чего: Запустите редактор…
В этой статье расскажу про возможность просмотра журналов событий из командной строки. Эти возможности можно…