Микроскопы

Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп атомно-силовой Veeco Dimension 3100 (далее по тексту -…

3 года ago

Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные оптические OLYMPUS STM6, STM6-LM (далее - микроскопы)…

3 года ago

Микроскоп оптический AxioImager m2M

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений линейных размеров функциональных элементов нано- и микроэлектромеханических…

3 года ago

Микроскоп конфокальный сканирующий VCM-200A

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерения профиля поверхности различных отражающих поверхностей в лабораториях…

3 года ago

Микроскоп сканирующий зондовый НаноСкан-3Di

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических параметров топографии поверхности с нанометровым пространственным…

3 года ago

Микроскоп ближнепольный WITec alpha 300

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических параметров рельефа поверхности в лабораториях научно-исследовательских…

3 года ago

Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-Д

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений высоты профиля поверхности отражающего динамического объекта в…

3 года ago

Микроскопы интерференционные автоматизированные МИА-1М

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерения высоты профиля поверхности отражающих объектов в микро-…

3 года ago

Микроскоп электронный просвечивающий с аналитическими модулями JEM-2100

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и…

3 года ago

Микроскоп электронный просвечивающий JEM-100CX

Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Для измерений геометрических расстояний и размеров элементов микро- и…

3 года ago