Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронный сканирующий Quattro S ESEM (далее - микроскоп)…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее -…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные Walter UHL (далее микроскопы) предназначены для измерений…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскоп электронно-ионный растровый Scios (далее - микроскоп) предназначен для…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы измерительные оптические STM7 предназначены для измерений линейных размеров…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие зондовые VEGA (ВЕГА) (далее C3M) предназначены для…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы конфокальные лазерные измерительные LEXT OLS5000 (далее - микроскопы)…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные Hitachi TM4000/TM4000Plus с приставкой для энергодисперсионного…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы электронные растровые настольные модификаций Phenom Pure, Phenom Pro,…
Микроскоп измерительный - предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности. Микроскопы сканирующие электронные серий GeminiSEM, Crossbeam, EVO, SIGMA (далее…