Микроскоп измерительный — предназначен для измерений линейных размеров и рельефа поверхности.
Микроскоп электронно-ионный сканирующий Helios G4 PFIB UXe (далее — микроскоп) предназначен для измерений линейных размеров элементов микро- и нанорельефа поверхности твердотельных образцов, исследования их элементного состава и кристаллографической структуры, проведения локальной структурной модификации поверхности твердотельных объектов сфокусированным пучком ионов Xe, а также подготовки поперечных срезов для просвечивающего электронного микроскопа.
Данная стаття носит исключительно информационно-ознакомительный характер и не несет никакого рекламного или коммерческого подтекста.
Как менялся логотип Apple на протяжении многих лет. Логотип Apple — это не просто символ,…
Security Boot Fail при загрузке Acer — решение проблемы При загрузке ноутбука Acer с флешки,…
Ноутбук не включается — варианты решения Если при попытке включить ноутбук вы обнаруживаете, что он…
The AC power adapter wattage and type cannot be determined — причины и решение При…
Свистит или звенит блок питания компьютера — причины и решения Некоторые владельцы ПК могут обратить…
Мигает Caps Lock на ноутбуке HP — почему и что делать? При включении ноутбука HP…
